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射频导纳料位开关工作原理


传统的电容式物位计,随着物位上涨、物料覆盖探头,电路中探头和介质之间的电容值(导电物料场合)或者探头和管壁之间的电容值(绝缘物料场合)随之增加。由于物位的变化导致了电容桥的失衡,所以电容值的变化取决于被测物料的介电常数。然后通过对信号的检波、放大,输出相应的信号。然而,电容式物位仪表有一些缺点,特别是当探头有挂料的时候会严重影响测量结果。

射频导纳测量技术是具有相应优势的物位测量技术。虽然跟一般的电容式测量技术的概念很相似,但是射频导纳技术在电子单元中加入了电路和斩波电路,因此能够实现阻抗和容抗的单独测量。通过物理定律计算可得,任何挂料的阻抗和容抗的大小是相等的,所以由挂料产生的影响能够被测量出来并且通过振荡电路的移相,从总的输出中消除。

射频导纳产品的探头安装在储料罐中,通过探头获得物位变化引起的射频信号的变化。

探头的端能够阻止射频电流通过挂料形成回路,保证了仪表测量的准确性。

射频导纳技术测量结果精度高,并且不受探头挂料的影响,是目前使用场合非常广的一种测量技术。从低温-100℃到高温800℃、从真空到6.3MPa强压场合、从超短量程到120米超大量程,都能够正常应用,并且能够应用于不同类型的物料。


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